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基于AFM的磁盘缺陷检测分析仪
成果信息
项目年度编号: 1600510040
限制使用: 国内
省市: 北京
中图分类号: TP306
成果类别: 应用技术
成果公布年份: 2016
关键词: 磁盘缺陷检测分析仪 显微镜 软件系统
成果简介: 磁盘缺陷检测分析仪通过提高磁头以及放大电路的灵敏度,发现纳米级的微小磁盘缺陷,对发现的缺陷进行精确定位,杜绝缺陷的遗失。还能使用光学和原子力显微镜对缺陷类型进行高效和深入的分析,最后通过软件系统输出详细的分析报告。应用范围:磁盘缺陷检测分析仪可以在实验室里,对生产线下来的磁盘进行离线分析。也可以用作对次品硬盘存储器里的磁盘(File Return)进行售后技术服务的原因分析。由于分析仪集成了多种检测手段,在自主开发的软件控制下,它能够使用灵敏的磁头快速及精确的定位磁盘上的缺陷,然后使用不同倍率的光学显微镜迅速的对缺陷进行分类和拍照,还可以使用原子力显微镜对极微小的缺陷进行纳米级的扫描成像。磁盘缺陷检测分析仪多样的检测手段和便利的操作,显著地提高了实验室里磁盘检测质量和分析的效率,从而可以为磁盘生产企业的质量提升提供帮助。技术特点此分析仪的其核心技术是一个稳定可靠的、可以同时对样品进行检测和定位分析的平台,是世界上第一个成功的把原子力显微镜和磁盘缺陷检测结合起来的综合性仪器。主要技术特点是:既能够快速的检测,还能够精确的定位,定位的精度为0.5μm;通过自动控制,可以在很短时间里,对磁盘使用不同手段进行检测,从而可以提供高效和全面的检测报告;自主开发的软件,可以让磁盘检测安全可靠的自动运行,也可以对磁盘进行自由的手动检测。经过三年多的研发测试和技术公关,该分析仪已在多个知名企业的实验室成功安装运行,性能稳定可靠。通过与客户的交流与讨论,研发小组也对此分析仪进行不断的功能更新和软件客户深度定制。同时,灵敏度更高、探测手段更高的新版磁盘缺陷分析仪也将在不久成功研制,并移交客户使用。
申报信息
相关人信息
完成单位: 北京大学
行业及专利信息
应用行业名称: 计算机维修
应用行业码: 613
转让信息
投资信息
推广信息
联系信息
联系单位名称: 北京大学
联系单位地址: 北京市海淀区颐和园路5号
传真: (010)62554332
邮政编码: 100871