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    GB/T 5252-1985 - 中外标准 - - 1985/7 - 作废
    本标准适用于错密度0~100.000cm<sup>-2</sup>的N型和P型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为(111)、(100)和(113)面。
    试验锗单晶位错腐蚀坑
  • CNS 11417-1985 - 中外标准 - - 1985/11 - 现行
    电热元件硅无机化合物碳化物规范电热体
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