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    GB/T 8760-1988 - 中外标准 - - 1988/2 - 作废
    本标准适用于位错密度为0~100 000个/cm<sup>2</sup>的砷化镓单晶的位错密度的测量。
    镓无机化合物砷化物晶体密度测量位置误差单晶
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    GB/T 10117-1988 - 中外标准 - - 1988/12 - 作废
    本标准规定了高纯锑的产品分类、技术要求、检验规则及包装运输等。本标准适用于以一号锑为原料,经氛化、蒸馏、还原等而制得的纯度不小于99. 999%的锑;再以此为原料,经双精馏等而制得的纯度不小于99. 9999%的锑。产品供制备Ⅲ-V族化合物半导体、高纯合金、硫化锑、制冷元件和硅、锗单品的掺杂剂等。
    检验规范规范试验高纯锑检验规范规范试验高纯锑
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    GB/T 8756-1988 - 中外标准 - - 1988/2 - 作废
    本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工工艺过程中所产生的各类缺陷的形貌。
    图谱晶体缺陷与故障金相学照片晶体缺陷与故障金相学照片图谱
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    GB/T 10118-1988 - 中外标准 - - 1988/12 - 作废
    本标准规定了高纯镓的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和包装运输等。本标准适用于以纯度不小于99. 99%的工业镓为原料,经电解精炼等制得的纯度不小于99. 999 9%的镓;再以此为原料,经拉制单晶或其他提纯工艺等制得的纯度不小于99.99999%的镓。产品供制备化合物半导体材料和高纯合金等用。
    检验规范检验规范
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    SJ 3118-1988 - 中外标准 - - 1988/4 - 现行
    本标准规定了晶片包装盒、传递片架和清洗片架的晶片承载器的品种、规格、尺寸和技术要求。 本标准适用于半导体材料、分立器件和集成电路生产过程中晶片的包装、传递和清洗用的晶片承载器。
    晶片承载器电子材料标准
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