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    GB/T 14844-1993 - 中外标准 - - 1993/12 - 作废
    本标准规定了半导体多晶、单晶、晶片和外延片产品牌号的表示方法。  本标准适用于编制半导体材料的牌号。在编写国家标准和行业标准时,应采用本标准所规定的牌号表示方法。产品出厂时,应使用本标准规定的牌号标志。
    牌号半导体半导体牌号
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    GB/T 14142-1993 - 中外标准 - - 1993/2 - 作废
    本标准规定了用化学腐蚀显示,并用金相显微镜检验硅外延层晶体缺陷的方法。  本标准适用于硅外延层中堆垛层错和位错密度测量。硅外延层厚度应大于2μm。测量范围为0~10000cm^2。
    外延层完整晶体(电子)检验检验完整外延层晶体(电子)
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    GB/T 14275-1993 - 中外标准 - - 1993/3 - 现行
    本标准适用于纤维光学调制器中的波导电光调制器。这类器件是以介质或半导体材料为衬底的条带波导,在外加电场的作用下能改变在波导中传输的光的幅度、相位或偏振等参数。  本标准规定波导电光调制器质量评定程序及鉴定批准的详细规范中所用的标准光学、机械和环境试验及测量方法。
    波导元件调制器纤维光学纤维光学调制器波导元件
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