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    GB/T 11094-2007 - 中外标准 - - 2007/9 - 现行
    本标准规定了水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片的要求、试验方法及检验规则等。  本标准适用于水平法砷化镓单晶、单晶锭及切割片,产品主要用于光电器件、微波器件和传感元件等的制作。
    砷化物晶体镓无机化合物金属ARSENIDESCRYSTALSGALLIUM INORGANIC COMPOUNDSGALLIUMMETALSMETAL
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    GB/T 11093-2007 - 中外标准 - - 2007/9 - 现行
    本标准规定了液封直拉法砷化镓单晶及切割片的要求、试验方法、检验规则和标志、包装运输贮存等。  本标准适用于液封直拉法制备的砷化镓单晶及其切割片。产品供制作微波器件、集成电路、光电器件、传感元件和红外线窗口等元器件用材料。
    砷化物晶体镓无机化合物密封剂金属ARSENIDESCRYSTALSGALLIUM INORGANIC COMPOUNDSGALLIUMJONIT SEALINGSSEALERSSEALING AGENTSSEALANTMETALSMETAL
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    JB/T 10698-2007 - 中外标准 - - 2007/1 - 现行
    本标准规定了重结晶碳化硅板的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和储存等。 本标准适用于氧化气氛下工作温度不超过1600 ℃、还原气氛下工作温度不超过1700℃注浆成型的重结晶碳化硅板。
    碳化硅碳化硅特种制品重结晶碳化硅板
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    JB/T 5204-2007 - 中外标准 - - 2007/1 - 作废
    碳化硅脱氧剂化学分析方法
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    GB/T 11073-2007 - 中外标准 - - 2007/9 - 现行
      本标准规定了用直排四探针法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。  本标准适用于厚度小于探针平均间距、直径大于15mm、电阻率为1×10^-3 Ω·cm~3 ×10^3 Ω·cm硅单晶圆片径向电阻率变化的测量。
    晶体(电子)电阻率电学测量变量径向电阻测量测量SILICONESILICONCRYSTALS (ELECTRONIC)ELECTRICAL RESISTIVITYRESISTIVITYELECTRICAL MEASUREMENTELECTRIC MEASUREMENTELECTRIC MEASUREMENTSVARIABLERADIALRESISTANCE MEASUREMENTMEASUREMENTMEASURINGMEASUREMENTS
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    GB/T 4059-2007 - 中外标准 - - 2007/9 - 作废
    本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基磷的检验。  本标准检测杂质浓度的有效范围:0.002×10^-^9~100×10^-^9。
    晶体缺陷晶体检验检验SILICONESILICONCRYSTAL DEFECTSCRYSTAL EXAMINATIONCHECKSINSPECTIONEXAMINATIONSPHOSPHORUS
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    GB/T 4060-2007 - 中外标准 - - 2007/9 - 作废
    本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的试验。  本标准检测杂质浓度有效范围:0.002×10^-^9~100×10^-^9。
    晶体缺陷晶体检验检验SILICONESILICONCRYSTAL DEFECTSCRYSTAL EXAMINATIONCHECKSINSPECTIONEXAMINATIONSBORON
  • ISO 8486-2-2007 - 中外标准 - - 2007/8 - 现行
    ISO 8486-2:2007 sets forth a method for determining or checking the size distribution of microgrits F230 to F2000 in fused aluminium oxide and silicon carbide. It specifies the grit designation for the testing of those grits used in the manufacture of bonded abrasive products and general industrial applications and those removed from bonded products, as well as loose grits used in polishing.
    扁平砂轮磨料分析器具刚玉定义名称与符号测定质量分布电熔金刚砂粒度粒度分选微谷粒粒度分布粒度测量粒状材料屏蔽筛选(大小)筛分设备碳化硅试验设备试验筛测试测试辅助物工具Abrasive flap wheelsAbrasivesAnalysisApparatusCorundumDefinitionsDesignationsDeterminationDistribution of massElectric corundumGrain sizeGrain sizingGrinding wheelsMicroMicrograinParticle size distributionParticle size measurementParticulate materialsScreeningScreening (sizing)Sieving equipmentSilicon carbideTest equipmentTest sievesTestingTesting aidsTools
  • ISO 10081-4-2007 - 中外标准 - - 2007/6 - 作废
    ISO 10081-4:2007 specifies the classification and designation of dense shaped refractory products of special composition including oxide products, oxide and non-oxide products, non-oxide silicon carbide or carbon-based products, and further special products which are only designated but not classified, for example, non-oxide products, such as boride, nitride or further combinations of the series given above.
    陶瓷化学成分氧化铬分类分类系统名称与符号材料材料测试金属氧化物方法非氧化物耐火性耐熔的耐火材料耐熔制品成型耐火材料硅酸盐碳化硅特殊产品AluminiumCarbonCeramicsChemical compositionChrome oxidesClassificationClassification systemsDesignationsMaterialsMaterials testingMetallic oxidesMethodsNon-oxidesRefractabilityRefractoriesRefractoryRefractory materialsRefractory productsShaped refractoriesSilicateSilicon carbideSpecial productsZirconium
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    GB/T 6663.1-2007 - 中外标准 - - 2007/2 - 现行
    GB/T 6663的本部分适用于直热式负温度系数热敏电阻器,这类电阻器一般由金属氧化物半导体材料制成。  它规定了用于电子元件质量评定体系或其他目的分规范和详细规范的标准术语、检验程序和试验方法。
    电阻电阻器热敏电阻温度系数直热式阴极规范RESISTANCE (ELECTRICAL)ELECTRICAL RESISTANCERESISTORSTHERMISTORSTEMPERATURE RATIODIRECTLY-HEATED CATHODESSPECIFICATIONSPECIFICATIONS
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