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GB/T 7509-1987
- 1987年03月25日
- 现行
本规范规定了编制半导体集成电路微处理器（以下简称器件）详细规范的基本原则。
半导体详细规范微处理机集成电路
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GB/T 38762.2-2020
- 2020年04月28日
- 现行
本部分说明了应用尺寸规范控制线性、角度尺寸之外的尺寸时所引起的不确定度，以及用几何规范控制上述尺寸的益处。
尺寸公差可以用土公差或几何规范来标注。
除线性尺寸外的尺寸使用士公差产生的不确定性（例如，GB/T 1804和GB/T 6414中所提及的独立公差和一般公差），在附录A中给出解释。
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GB/T 18311.40-2003
- 2003年11月24日
- 现行
本部分规定了带保偏光纤尾纤的连接器的消光比的测量程序。在试验中限定测量过程在一个最常见的情况下进行，即保偏光纤中传播的是近似线偏振光。此处术语“消光比”是指光纤中两个正交偏振轴中传播的光之比，并可更恰当地定义为“偏振串扰”。“消光比”是通用的术语。 本程序设计用于制造过程中的专用装置，因此比较详细地说明试验装置的构成。必须指出，在有合适装备的光学实验室可以采用其他能直接测试的试验装置，这种情况下可能会需要附加试验程序。应注意本试验程序不是为长期连续试验而设计的，尤其在单模光纤中可能会出现偏振对准偏移。因此，对器件的长期试验来说，重复测试比连续测试更重要。
光通信系统连接器电连接器试验
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GB/T 7962.23-2019
- 2019年08月30日
- 现行
本部分规定了无色光学玻璃耐气候稳定性的原理、环境条件、测试步骤、数据处理和分类等。
本部分适用于无色光学玻璃，其他类玻璃可参照使用。
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GB/T 38246-2019
- 2019年10月17日
- 现行
本标准规定了家用激光显示系统(以下简称系统)的光辐射安全要求,包括光辐射安全分类要求、制造商要求、使用与维护要求等。本标准适用于家用超短焦激光显示系统涉及的光谱范围为380 nm～780 nm的激光、非相干光及激光和非相干光混合光源的光辐射安全特性评价。荧光光源的光辐射安全特性评价可参照本标准执行。本标准不适用于激光扫描式显示系统的光辐射安全特性评价。
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GB/T 14112-2015
- 2015年05月15日
- 现行
本标准规定了半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架（以下简称引线框架）的技术要求及检验规则。
本标准适用于双列（DIP)冲制型引线框架。单列冲制型引线框架亦可参照使用。
电路电线集成电路集成电路工艺半导体器件塑料引线框架规范
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GB/T 14275-1993
- 1993年03月04日
- 现行
本标准适用于纤维光学调制器中的波导电光调制器。这类器件是以介质或半导体材料为衬底的条带波导，在外加电场的作用下能改变在波导中传输的光的幅度、相位或偏振等参数。 本标准规定波导电光调制器质量评定程序及鉴定批准的详细规范中所用的标准光学、机械和环境试验及测量方法。
波导元件调制器纤维光学
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GB/T 15138-1994
- 1994年06月25日
- 现行
本标准规定了膜集成电路和混合集成电路的封装形式及外形尺寸，适用于膜集成电路和混合集成电路成品尺寸检验和封装设计。
集成电路薄膜电路混合集成电路尺寸
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GB/T 41572-2022
- 2022年07月11日
- 现行
本文件界定了脉冲激光时域主要参数的术语和定义，描述了其主要参数特性，规定了测量条件和测量方法。本文件适用于持续时间在3 fs~0.25 s范围内的脉冲激光时域主要参数测量，脉冲宽度0.25 s以上的激光参照执行。
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GB/T 9178-1988
- 1988年05月19日
- 现行
本际准规定了集成电路的生产制造、工程应用和贸易等中使用的基本术语。 本标准适用于与集成电路有关的生产、工程、科研、教学和贸易等。
术语集成电路
